如果您需要对未知进行探索；如果您需要通过光与物质作用对材料或样品进行性能表征；如果您需要在190nm到22um的紫外、可见、近红外、中远红外光范围内挑选一款高品质和高灵敏度的科研用途光谱仪器和光谱测量系统，那么您总能在理航光电LAEROX®找到最适合的您的光谱测试系统解决方案。理航光电不但提供光谱仪器，而且提供和光谱仪配套的交叉测试仪器和交叉测量系统解决方案，为您的实验或样品提供全方位的测试手段，对于某些特殊应用还可以匹配您现有的实验条件进行样品的原位测量，测量样品在其他物理条件（比如压力、电场、磁场、加热高温、制冷低温、电偏置、光偏置、真空、通电等）改变情况下的光谱特性，并且与其他测量仪器配套对样品进行原位表征和分析（比如原子力显微、光学显微镜等）。
理航光电LAEROX®提供的光谱仪器和光谱测量系统根据应用主要分为以下几个部分：
★光谱仪和单色仪
★变角度透射、反射和吸收光谱测试系统
★透射、反射和吸收光谱仪
★荧光和光致发光光谱仪
★光电综合测试系统
★光谱响应和量子效率测试系统
★拉曼光谱仪
★发射光谱和光谱辐射测试系统
★其他特殊定制光电或光谱测试系统
我们有经验丰富的光电设计和研发团队，可以根据您的科研实验的实际需求提供专业的光谱仪器和光谱测量系统定制服务，并且为科学实验和分析测试提供系统解决方案。
我司的LA-SP系列光谱仪器和光谱测量系统产品经过长达十六年以上的技术经验积累，理航光电LAEROX®已经发展和优化了光谱仪器和光谱测量系统的制造技术、光学光路设计和精密电子控制系统，并且大量运用于科研、光电子产业、物理、化学、材料科学、生物和生命科学、药学和医学、农学和林业、国防工业、公安刑侦等广大的应用领域，并取得了成功的实践验证。
光电综合测试系统 Comprehensive Photoelectricity Test System |
光电综合测试系统Comprehensive Photoelectricity Test System
理航光电LAEROX®的LA-SP-CPT系列光电综合测量系统，对各种光电探测器、光电转换材料、半导体材料等进行综合光电测量，可以测试样品的光谱响应、频率或时间响应、线性、噪声、暗电流、电流电压IV特性分析等等。特别适合科研、工业、分析测试等各个领域，可作为光电材料或器件全方位的分析测试平台。
产品应用Applications
★科学研究（光电功能材料、半导体材料、光电转换材料、光电器件、光电探测器等）
★半导体封测 （如二极管、齐纳二极管、LED、激光二极管 ，BJT、MOSFET、SIC、GaN等 ， IC芯片 ）
★纳米材料与器件（石墨烯、碳纳米管、纳米线等）
★能量效率与照明 （如LED/AMOLED ；光伏/太阳电池 ；电池、DC-DC转换器等）
★材料特性分析(如电阻率，霍尔效应）
★无源元器件、传感器(如 电阻器、变阻器、热敏电阻、开关；光电传感器、传感器等)
★有机材料与器件(如电子墨水、印刷电子技术等）
主要规格及特色Features&Benefits
★测量光谱范围广，覆盖了紫外、可见、近红外和中远红外光谱范围：185nm~22um
★针对微弱光信号和电信号进行探测
★测量电流范围宽：1pA~10A
★光强分辨率高达1pW
★高频率光信号，可测量200MHz频率响应
★扩展接口丰富，可以与LAEROX的各种光源、激光器、光谱仪器、显微镜等连用
★高通光效率光路设计
★超大测试屏蔽暗箱
★低噪声电路
产品参数Specifications
产品型号 Model | LA-SP-CPT-XY Series (X is Wavelength Range, Y is Special Parameters) |
测量内容 Measurement | 光电综合测量 |
时间响应 Time Response | fs,ps,ns,μs,ms（可选） |
频率响应 Frequency Response | DC~200MHz(可选）； |
激光波长 Laser Wavelength Range | 200nm~11um（可选其中某个或几个单一波长）； 常用激光波长：266nm,355nm, 375nm，405nm，532nm，520nm，660nm，808nm，980nm； |
LED光源波长范围 LED Light Source Wavelength Range | 200~4600nm（（可选其中某个或几个单一波长）；） |
测试光学通道 Incident Light Port | 2~4（可选) |
测试光路 Light Path | 多光源可切换光路 |
偏置电压 Bias Voltage | 1.5~15V(可选） |
样品尺寸 Sample Dimensions | 测试样品宏观尺寸：1mm~300mm； 测试样品围观尺寸: nm或 um |
样品类型 Sample Type | 光电探测器、太阳能电池、半导体材料、光电材料等等 |
样品台 Sample Stage | 样品台可以可装卡各种尺寸的固体、液体样品 真空吸附样品台可以装卡1英寸到12英寸硅片； |
超大屏蔽测试暗箱尺寸 Large Test Chamber | 900mm*800mm*900mm |
连续可调光源模组 Tunable Light Source | 可配套理航光电LAEROX的LA-SP-MON连续可调单色光源系统使用 |
衰减片组 Neutral Density Filters | 各种透射率可供选择，透射率范围：0.1%~90%(可选）, 比如 OD0.3,0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3.0等等或0.1%，1%，5%，10%，20%,30%，40%，50%，60%，70%，80%，90%等 |
观察显微镜 Microscope | 光学显微镜或显微相机观察系统（可选） |
IV检定测量和特性分析 IV Test | 漏电、低电压/电阻、LIV、IDDQ I-V特性分析、隔离和印制线电阻 温度系数、正向电压、反向击穿、漏电流 直流参数测试、直流电源 HIPOT 绝缘耐压测试序列举例等 |
测量最大电流 Maximum Current | 1A~3A(NC，可选) 3A~10A(HC,可选) |
测量最大电压 Maximum Voltage | 20V，200V，1100V（可选） |
测量电流电压分辨率 Current and Voltage Resolution | 1pA / 100nV |
信号调制源 Modulation Source | 0~20MHz |
高精度光强校正 Optical Power Calibration | 1pW超高分辨率，另外有10pW~1uW可选； |
可选功能模块Optional Functional Module
理航光电LAEROX®提供了各种光电测试功能模块，以下表格中的功能模块可以根据实验测试需要选择其中一个或多个。详细配置方案也可以咨询我司专业的光电工程师。
产品测试项目 Product Name | 产品型号 Model | 产品参数 Specifications |
时间和频率响应等综合测试 Comprehensive Time Response and Frequency Test | LA-SP-CPT-CTR系列 | LA-SP-CPT-TR系列时间和频率响应等综合测功能模块； 时间响应：fs,ps,ns,μs,ms（可选） 频率范围：DC~20MHz（可选）；DC~200MHz(可选）； 激光波长：200nm~11um（可选）； 常用激光波长：266nm,355nm, 375nm，405nm，532nm，520nm，660nm，808nm，980nm； 测试通道：2~4（可选) 光路：可切换； |
光谱响应、量子效率和IPCE等测量 Spectral Response and QE Spectrum Test | LA-SP-SR系列 | LA-SP-SR系列光谱响应和量子效率测量系统 测量光谱范围：185nm~22um 分辨率：0.03~10nm（可选） 电偏置：可选配； |
动态范围和线性测量 Dynamic Range and Linearity Test | LA-SP-CPT-DR系列 | LA-SP-CPT-DR系列动态范围和线性测量功能模块； 可测量光信号动态范围：fw~mW； LED光源波长范围：200~4600nm（可选） 激光波长范围：200~11um(可选)； 常用波长：266nm,355nm,375nm，520nm，780nm等等； 光强可连续调节； |
等效噪声功率和暗电流测试 NEP Test | LA-SP-CPT-NEP系列 | LA-SP-CPT-NEP系列等效噪声功率测量功能模块； NEP直接测量； 暗电流测量； |
温度特性测量 Temperature Characteristic of Dark Current and Sensitivity | LA-SP-CPT-TEP系列 | LA-SP-CPT-TEP系列温度特性测量功能模块； 测量探测器的暗电流和灵敏度随温度的变化特性； 可配套LA-SP-SR系统测量低温下的光谱响应曲线； 温度范围：-30℃~500℃ 或 4K~800K(可选） |
显微光谱响应测试 Micro Spectral Response Test | LA-SP-CPT-MIC系列 | LA-SP-CPT-MIC系列显微光谱响应测试功能模块； 样品尺寸：纳米nm或微米um尺度样品 光学显微镜主机、光源和CCD相机； 显微物镜：20X，50X，100X 可配套LA-SP-SR光谱响应系统使用； 可以配套LA-SP-M系列光谱仪和单色仪使用； |
探针台IV电流电压测试 Probe Station IV Test | LA-SP-CPT-PROB系列 | LA-SP-CPT-PROB系列探针台测试功能模块； 专用常规探针台或真空探针台； 配套显微观察系统； 超大屏蔽测试暗箱:900*800*900mm3 测试样品宏观尺寸：1mm~300mm； 测试样品围观尺寸: nm或 um 探针和精密位移台数量：1~4（可选); 精密位移调节：Tx：13mm；Ty:13mm;Tz:13mm（另外有25mm位移可选）； 灵敏度：1~2um（另外有更高灵敏度的nm位移台可选） 精密源表等IV测试设备； 扩展光学接口 |
注意事项：
1，表格中的参数为整个系列的参数，具体型号的具体参数根据以我司销售工程师提供的正式报价表格为准。
2，其他特殊参数或需求欢迎来电咨询，我司可提供定制化服务，并可提供系统应用解决方案。
注意: 由于持续的产品改进，本手册中的技术参数一直在更新中。如需要最新产品资料手册和报价单，请联系我司的光学工程师。联系电话：+86-15928606469； 联系微信：15928606469；电子邮箱：laerox@139.com
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