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  • 透射、反射和吸收光谱仪
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  • 透射、反射和吸收光谱仪

    理航光电LAEROX®致力于为您的前沿科学研究或实验分析提供各种光谱仪和光谱测量的系统解决方案,并且提供与光谱测试关联的各种光电测量的系统解决方案。以下是部分典型的光谱应用测试系统介绍,这些系统有标准化的配置,也有定制化的配置,可以根据您的实验目的和科研所在的研究阶段给予最恰当的定制化方案,越是微弱的光信号,越是难以捕捉的光与物质作用产生的现象,越是我们擅长和感兴趣的领域,这也是我们十六年以上技术积累的强项!追求光电探测和光谱探测的极限就是我们的目标。

    理航光电LAEROX® 的光谱仪和光谱测试系统主要包括如下产品:

     

    变角度透射、反射和吸收光谱仪

    透射、反射和吸收光谱仪

    荧光和光致发光光谱仪

    光电综合测试系统

    光谱响应和量子效率测试系统

    拉曼光谱仪

    发射光谱和光谱辐射测试系统

     

    我司专业的光学工程师团队还可为您的实验提供定制化的光谱测试和光电测试系统解决方案。对于某些特殊应用还可以匹配您现有的实验条件进行样品的原位测量,测量样品在其他物理条件(比如压力、电场、磁场、加热高温、制冷低温、电偏置、光偏置、真空、通电等)改变情况下的光谱特性,并且与其他测量仪器配套对样品进行原位表征和分析(比如原子力显微、光学显微镜等)。


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商品描述

理航光电LAEROX®致力于为您的前沿科学研究或实验分析提供各种光谱仪和光谱测量的系统解决方案,并且提供与光谱测试关联的各种光电测量的系统解决方案。以下是部分典型的光谱应用测试系统介绍,这些系统有标准化的配置,也有定制化的配置,可以根据您的实验目的和科研所在的研究阶段给予最恰当的定制化方案,越是微弱的光信号,越是难以捕捉的光与物质作用产生的现象,越是我们擅长和感兴趣的领域,这也是我们十六年以上技术积累的强项!追求光电探测和光谱探测的极限就是我们的目标。

理航光电LAEROX® 的光谱仪和光谱测试系统主要包括如下产品:

 

变角度透射、反射和吸收光谱仪

透射、反射和吸收光谱仪

荧光和光致发光光谱仪

光电综合测试系统

光谱响应和量子效率测试系统

拉曼光谱仪

发射光谱和光谱辐射测试系统

 

我司专业的光学工程师团队还可为您的实验提供定制化的光谱测试和光电测试系统解决方案。对于某些特殊应用还可以匹配您现有的实验条件进行样品的原位测量,测量样品在其他物理条件(比如压力、电场、磁场、加热高温、制冷低温、电偏置、光偏置、真空、通电等)改变情况下的光谱特性,并且与其他测量仪器配套对样品进行原位表征和分析(比如原子力显微、光学显微镜等)。




透射、反射和吸收光谱仪   AbsorptionReflection and Transmission Spectrometer

 

  透射、反射和吸收光谱仪  Absorption,Reflection and Transmission Spectrometer


我司理航光电LAEROX®的LA-SP-ART系列吸收、反射和透射光谱仪,也就是分光光度计,不过比市面上商业的分光光度计具有更宽的光谱范围,更强大的拓展能力,更高的灵敏度,能测量分光光度计测试不了的材料和样品。该系统有丰富的扩展接口,可以与激光器、显微镜、积分球等各种设备进行连用测试。

本系统具有0.03nm高精度的光谱分辨能力,光谱范围范围覆盖了185nm到22um 的紫外、可见、近红外和中远红外,通过光谱法测试和分析各种材料的物质成分和特性。

我司专业的光学工程师团队还可为您的实验提供定制化的光谱测试系统解决方案。

 

产品特点Features&Benefits

 

测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜、半导体器件太阳能电池片等)的吸收、透射/反射光谱。

测试球面光学元件(凹面镜、凸面等)的吸收、透射/反射光谱。

测试各种漫反射样品或粉末的散射吸收光谱

测试各种材料(半导体材料、薄膜材料、溶液、玻璃、晶体、布料、汽车贴膜、眼镜等)的吸收、透射/反射光谱。

测试各种农产品(水果、稻谷、小麦)的吸收、散射光谱。

测试各种光与物质作用时,通过光信号不同波长的吸收判断物质特性的领域

 

产品特点Features&Benefits

 

光谱范围:185nm~22um(光谱范围可选,常用范围:350nm-900nm,200nm-1100nm,350nm-2500nm,200nm-2500nm1-5um,8-14um,2-16um)

波长分辩率: 0.03nm~10nm (可选

测试系统高集成度,全自动化的测量

光源采用德国OSRAM紫外、可见、近红外灯泡,进口中远红外SiC或SiN发光模块

光信号探测采用美国进口高灵敏度紫外、可见、红外探测器,并且可选择配套TEC制冷或液氮制冷,大大降低探测器的暗噪声水平

针对特别弱的红外信号,信号处理部分可选配美国进口的锁相放大器和光学斩波器

两种专用系统可选,分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试

系统可扩展升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱

专业优化设计的系统光路,杂散光小,通光效率高

超大多功能样品室,便于操作,可选择液体、固体样品架;并配备透射专用比色皿

可选积分球附件,专门用于测试各种漫反射样品

软件自动化控制

系统扩展性好,方便客户购买基本配置后进行系统升级和功能扩展

 

产品参数Specifications


产品型号Model

LA-SP-ART-XY Series

(X is Wavelength Range, Y is Special Parameters)

光源Light source

LAEROX ®  LA-SP Series UV-VIS-IR Stabilized Light source(Optional)

光源功率Lamp Power

30W~1550W(Optional);

光谱测试范围Spectral Range

200nm~28um

光谱分辨率Spectral Resolution

0.03~10nm(可选)

测量内容Measurement

透射、反射、吸收光谱(可选)

样品尺寸Sample Dimension

5mm~40mm(可选);特殊样品尺寸可提供定制

样品类型Sample Type

平面&薄膜&液体等

波长重复性Wavelength Repeatability

0.1nm

波长准确度Wavelength Accuracy

0.2nm

系统控制System Controller

Integrated Controller

光路类型

Light Path Design

透射式光路或全反射光路结构

微弱信号检测系统Weak Signal Detection

Optional

低噪声前置放大模块Low Noise Preamplifier

104~1013  (Optional)

锁相放大Lock-in Amplifier

Optional

斩波调制Optical Chopper

Optional

积分球探测器模块Integrating Sphere with Detector

Optional

积分球样品模块Integrating Sphere

Optional

通讯接口Computer Interface

RS232 or USB2.0

系统软件Professional Software

LAEROX® MonSoft Series for WIN XP or WIN7,10 (32/64)

注意事项:

1,表格中的参数为整个系列的参数,具体型号的具体参数根据以我司销售工程师提供的正式报价表格为准。

2,其他特殊参数或需求欢迎来电咨询,我司可提供定制化服务,并可提供系统应用解决方案。

3,由于持续的产品改进和升级,产品资料和参数规格持续更新中,不另行告知。如需最新参数资料和正式报价单,请来电咨询我司的光学工程师。

 

 

 

温馨提示TIPS: 由于持续的产品改进,本手册中的技术参数一直在更新中。如需要最新产品资料手册和报价单,请联系我司的光学工程师。联系电话:+86-15928606469; 联系微信:15928606469;电子邮箱:laerox@139.com


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